爱德万集成式测试设备满足TPMS MEMS传感器测试需求
2014-05-26 20:17:55   来源：微迷   评论：0   点击：

为因应中国快速成长的汽车市场需求，半导体测试设备业者爱德万测试日前已安装一套集成式测试设备，该套设备完整具备汽车胎压监控系统（TPMS）MEMS传感器最终测试所需的各项功能，现已通过检验可应用于量产制程，目前客户端内部与所合作的晶圆封测代工厂均已导入。

爱德万测试V93000电源模拟控制解决方案事业群总经理暨副总裁Juergen Serre表示：“近年来，MEMS传感器市场极速成长，提升传感器集成能力已是时势所趋，而发展‘传感器融合’技术亟需仰赖高弹性且具成本效益的解决方案，才能因应快速成长的需求，我们这套集成式测试设备采用具备高扩充性的V93000为核心，正能符合这样的需求。”

这套测试设备紧密集成了爱德万测试的V93000 Smart Scale平台、Pin Scale 1600通用接脚数位量测模组与最多可达1024根接脚的小尺寸A级测试头，可提供极高的多组同测性能。不仅如此，这套设备还配备其他设备供应商所开发的大量器件分类机与各类压力测试工具。在发挥上述功能综效下，这套测试设备将能完全满足MEMS传感器所有测试需求，免去切换资源的麻烦，进而提升产能。此套系统可针对eFlash、AD/DA转换器、RF UHF发射器（频宽范围315MHz到433MHz）等非挥发性存储器，进行数字I/O通讯协定测试，传输率最高可达1.6Gbps。

这套设备内建有助于提升开发与运作效率的爱德万测试SmarTest软件，使该测试设备得以结合多台分类机运作，轻松因应未来扩充之需，同时也提供极广泛的传感器测试资料库，加速测试程式开发时程。

V93000 Smart Scale平台具备数字与模拟测试能力，可降低测试成本，且提供领先业界的并行测试效能，是同级产品中第一套具备完整效能的解决方案。V93000 Smart Scale所提供的A级配置方案采用爱德万测试尺寸最小的测试头，能大幅减少占用空间与耗能，让整体拥有成本发挥极大效益。

Pin Scale 1600数字量测模组可针对器件每根接脚进行测试，且具备相当高的多组同测效能，其扩充性为市场上最高，资料传输率范围则可从直流电到1.6Gbps，密度为前代产品的二到四倍，尺寸缩小但具备完整测试功能，包括clock-domain-per-pin、protocol-engine-per-pin、单接脚伪随机位元流、SmartLoop对称性高速测试介面等，可达到真正类系统压力测试效能。